隨著電子技術(shù)的發(fā)展，電子產(chǎn)品集成化程度也越來越高，結(jié)構(gòu)越來越細(xì)微，工序越來越多，制作工藝越來越繁雜。這樣在制造的過程中難免會產(chǎn)生潛伏的缺陷。對于一個好的電子產(chǎn)品，不但要求有較高的性能指標(biāo)，而且還要有著較高的穩(wěn)定性。為了保證出廠產(chǎn)品能合格，且經(jīng)得起時間的損耗和考驗，就有了電子高溫老化房試驗設(shè)備的存在。

小型電子高溫老化房由溫度傳感器采集老化房內(nèi)的溫度，然后把它傳給控制儀，控制儀把它和內(nèi)部設(shè)計值進(jìn)行比較運算繼而根據(jù)偏差值輸出控制量來調(diào)節(jié)可控硅導(dǎo)通角的變化，也就是控制負(fù)載電流的變化從而以密閉環(huán)的控制形式達(dá)到自動控溫的目的。

另外控制儀還設(shè)置了溫度上線跳閘保護(hù)這樣當(dāng)控制儀失靈的時候可以起到雙重保護(hù)功能的?？刂苾x通過標(biāo)準(zhǔn)的串行通訊接口與遠(yuǎn)程計算機(jī)相連。后臺計算機(jī)可調(diào)用控制儀的現(xiàn)場數(shù)據(jù)可進(jìn)行控制儀內(nèi)部數(shù)據(jù)設(shè)定并且可以打印實時溫度曲線。

電子高溫老化房設(shè)計制作的原理：

在老化后進(jìn)行電氣參數(shù)測量，篩選剔除失效或變質(zhì)的元器件盡可能把電子產(chǎn)品早期失效也就是無法正常使用之前發(fā)現(xiàn)。這種為提高電子產(chǎn)品的使用壽命，對穩(wěn)定性進(jìn)行必要的考核，剔除那些有著早逝缺陷的潛在個體（個別的元器件，電子產(chǎn)品等）。來確保整機(jī)的優(yōu)秀品質(zhì)和期望的使用壽命的工藝就是高溫老化的原理。

小型電子高溫老化房設(shè)計制作參數(shù)參考：

1.溫度范圍：常溫－85℃

2.老化房外形尺寸（約）：7800mm*6800mm*2200mm(長×寬×高)

3.升溫速度：2.0～4.0℃/min（環(huán)境溫度+25℃）

4.溫度均勻度：±5℃以內(nèi)（空載）

5.溫度波動度：±1℃（空載）

6.溫控精度：0.01℃

7.運行方式：整機(jī)具備溫度周期定時功能，即產(chǎn)品工作過程中環(huán)境溫度可分段控制，在不同時間段內(nèi)可設(shè)置不同溫度，所有時間段加起來為一個周期，周期可以循環(huán)運行

8.時間設(shè)定：0～999(小時、分鐘、秒可自由設(shè)定)

9.安裝電源：AC~380V(正負(fù)10%)；50 Hz

10.噪音大?。酣Q75分貝（*運行）

11.預(yù)留電源、信號線輸入輸出接口（具體位置尺寸以現(xiàn)場情況而定）

12.總額定功率：約38KW

四、參照標(biāo)準(zhǔn)及驗收方式：

本設(shè)備參照國家環(huán)境試驗設(shè)備技術(shù)規(guī)范精工制造，有效模擬氣候環(huán)境對產(chǎn)品的適應(yīng)性試驗。具體參照標(biāo)準(zhǔn)和國家環(huán)境試驗方法標(biāo)準(zhǔn)如下。

《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗》GB/T2423.2-2008

《低壓配電設(shè)計規(guī)范》GB50054-95

《供配電設(shè)計規(guī)范》GB50052-95

《電氣裝置安裝工程接地裝置施工及驗收規(guī)范》GB50169-92

《建筑材料燃燒性能分級》

《通風(fēng)與空調(diào)工程施工質(zhì)量驗收規(guī)范》GB50243-2002

《GB/T5170.2-1996 溫度試驗設(shè)備》